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全反射X射線熒光(TXRF)應用簡介

更新日期: 2023-04-05
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全反射X射線熒光(TXRF)具有優異的檢出限(低至pptpg),與其它具有類似元素檢出限的檢測手段相比,具有基體效應小、樣品需求量小、操作相對簡單、運行成本低等優勢。

TXRF一次可以對70多種元素進行同時分析,這是原子吸收ETAASFAAS方法難以完成的。與質譜儀中的ICP-MSGDMS以及中子活化分析NAA等方法相比較,TXRF分析方法在快速、簡便、經濟、多元素同時分析、用樣量少、檢出限低、定量性好等方面有著綜合優勢。同時,TXRF多采用內標法,無需特定標準樣品,儀器不需要額外冷卻設備,通常無需使用保護氣等輔助分析。因此,TXRF所分析的樣品較為廣泛,如下表:

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意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產商,其X射線產品線誕生于1966年,經過半個多世紀的開發和研究,該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。

X射線衍射儀(XRD)可測試粉末、薄膜等樣品的晶體結構等指標,多應用于分子結構分析及金屬相變研究;而全反射X熒光光譜儀(TXRF)的檢測限已達到皮克級別,其非破壞性分析特點應用在痕量元素分析中,涉及環境、醫藥、半導體、核工業、石油化工等行業;為迎合工業市場需求而設計制造的專用殘余應力分析儀、殘余奧氏體分析儀,近年來被廣泛應用在材料檢測領域,其操作的便捷性頗受行業青睞。



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